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Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques / ed. by Lawrence C. Wagner - ix, 255 páginas : ilustraciones

"SECS 494"--P. [4] de cubierta

ISBN: 0412145618 (papel libre de acido)

Subjects--Topical Terms:
Semiconductores--Fallas
Circuitos integrados--Pruebas
Circuitos integrados--Confiabilidad

LC Class. No.: TK7871.852 / F35

Dewey Class. No.: 621.3815