Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería
Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"

Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices /

Radiation effects and soft errors in integrated circuits and electronic devices / editors, R.D. Schrimpf, D.M. Fleetwood - viii, 339 páginas : ilustraciones - Selected topics in electronics and systems ; vol. 34 .

9812389407


Electrónica--Materiales--Efecto de radiación en
Circuitos integrados--Efecto de radiación en

TK7871 / R33

621.3815


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Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime” Edificio "A" de la Facultad de Ingeniería

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