Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería
Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"

Fundamental principles of engineering nanometrology /

Leach, Richard K.,

Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach - xxvi, 321 páginas : ilustraciones - Micro and nano technologies . - Micro & nano technologies .

9780080964546 (encuadernado) 0080964540 (encuadernado)


Nanotecnología
Microtecnología
Metrología

TA174.7 / L43

620.50287


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