Universidad Nacional Autónoma de México
Facultad de Ingeniería
Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"

Transmission electron microscopy of silicon vlsi circuits and structures /

Marcus, Robert B.,

Transmission electron microscopy of silicon vlsi circuits and structures / R. b. marcus and t. t. sheng - 217 páginas

"a wiley-interscience publications"

0471092517


Circuitos integrados
Microscopía electrónica
Microscopios electronicos de transmision

TK7874 / M353


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