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Failure analysis of integrated circuits : tools and techniques / ed. by Lawrence C. Wagner
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Editor: Boston, Massachusetts : Kluwer Academic, c1999Descripción: ix, 255 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0412145618 (papel libre de acido)Tema(s): Semiconductores -- Fallas | Circuitos integrados -- Pruebas | Circuitos integrados -- ConfiabilidadClasificación CDD: 621.3815 Clasificación LoC:TK7871.852 | F35
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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"SECS 494"--P. [4] de cubierta
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