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Semiconductor device and failue analysis : using photon emission microscopy / Wai Kin Chim
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TextoIdioma: ENG Editor: Chichester : J. Wiley, c2000Descripción: xv, 269 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 047149240XTema(s): Semiconductores -- Fallas | Semiconductores -- Pruebas | Semiconductores -- Microscopia | Emisión de fotonesClasificación CDD: 621.3815/2 Clasificación LoC:TK7871.852 | C45
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TK7871.852 C45 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 177384 |
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