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CTL for test information of digital ICs / by Rohit Kapur
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c2003Descripción: ix, 173 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1402072937Tema(s): Circuitos integrados digitales -- Pruebas -- Normas | Computadoras -- Lenguajes descriptivosClasificación CDD: 621.3815/48 Clasificación LoC:TK7874.65 | K36
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TK7874.65 K36 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 179769 | ||
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Libros Libros | General | TK7874.65 K36 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 179770 |
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compra 2013/06/06 155.00
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