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Thermal testing of integrated circuits / by Josep Altet and Antonio Rubio
Tipo de material:
TextoIdioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c2002Descripción: xiv, 204 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1402070764 (papel alcalino)Tema(s): Circuitos integrados -- Pruebas | Circuitos integrados -- Propiedades térmicas | TermometríaClasificación LoC:TK7874 | A57
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | General | TK7874 A57 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 180415 | ||
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Libros Libros | General | TK7874 A57 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 180416 |
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