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Testing for EMC compliance : approaches and techniques / Mark I. Montrose, Edward M. Nakauchi

Por: Montrose, Mark I [autor]Colaborador(es): Nakauchi, Edward M [autor]Tipo de material: Texto

TextoEditor: Hoboken, New Jersey : J. Wiley, c2004Descripción: xviii, 460 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 047143308X (encuadernado en tela)Tema(s): Compatibilidad electromagnética | Interferencia electromagnéticaClasificación LoC:TK7867.2 | M65

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Universidad Nacional Autónoma de MéxicoFacultad de IngenieríaCatálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"

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