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Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns / by Said Hamdioui
Tipo de material:
TextoSeries Frontiers in electronic testingEditor: Boston : Kluwer Academic, c2004Descripción: xx, 221 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1402077521 (papel alcalino)Tema(s): Memoria de acceso aleatorio -- PruebasClasificación CDD: 004.5/3 Clasificación LoC:TK7895.M4 | H345
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TK7895.M4 H345 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 184700 |
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compra 2013/06/06 1296.00
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