X-ray metrology in semiconductor manufacturing / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner
Tipo de material: TextoEditor: Boca Raton, Florida : CRC Press/Taylor & Francis, 2006Descripción: 279 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0849339286 (papel alcalino)Tema(s): Semiconductores -- Diseño y construcción -- Control de calidad | Circuitos integrados -- Medición | Láminas semiconductoras -- Inspección | Rayos X -- Difracción | FluoroscopiaClasificación CDD: 621.3815/2 Clasificación LoC:TK7874.58 | B68Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | General | TK7874.58 B68 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 187203 | ||
Libros | Libros Libros | General | TK7874.58 B68 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 187202 |
Total de reservas: 0
compra 2013/06/06 1434.14
No hay comentarios en este titulo.