Imagen de Amazon.com
Electromigration in ULSI Interconnections / Cher Ming Tan
Tipo de material:
TextoSeries International series on advances in solid state electronics and technologyEditor: Singapore : World Scientific, c2010Descripción: xix, 291 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9789814273329; 9814273325Tema(s): Circuitos integrados -- Ultra integración a gran escala | ElectrodifusiónClasificación LoC:TK7874.76 | T35
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros
|
Libros Libros | General | TK7874.76 T35 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 195765 |
Total de reservas: 0
Navegando Libros Estantes, Ubicación: Libros, Código de colección: General Cerrar el navegador de estanterías (Oculta el navegador de estanterías)
|
|
|
|
|
|
|
||
| TK7874.75 V57 VLSI design environments / | TK7874.75 V576 VLSI technology / | TK7874.75 Z48 Power distribution network design for VLSI / | TK7874.76 T35 Electromigration in ULSI Interconnections / | TK7874.76 T85 ULSI semiconductor technology atlas / | TK7874.76 T85 ULSI semiconductor technology atlas / | TK7874.76 U54 ULSI devices / |
No hay comentarios en este titulo.