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Transient-induced latchup in CMOS integrated circuits / Ming-Dou Ker and Sheng-Fu Hsu
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TextoEditor: Singapore : [Piscataway, NJ] : Wiley ; IEEE, c2009Descripción: xiii, 249 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780470824078 (encuadernado en tela); 0470824077 (encuadernado en tela)Tema(s): Semiconductores complementarios de óxido metálico -- Defectos | Semiconductores complementarios de óxido metálico -- ConfiabilidadClasificación CDD: 621.39/5 Clasificación LoC:TK7871.99M44 | K47
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros Libros | General | TK7871.99M44 K47 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 195870 | ||
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