Coupled diffusion of impurity atoms and point defects in silicon crystals / Oleg Velichko
Tipo de material: TextoEditor: London : World Scientific, [2020]Descripción: xvii, 385 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9781786347152Tema(s): Semiconductores -- Distribución de impurezas | Cristales de silicio -- Defectos | Silicio -- InclusionesClasificación CDD: 537.6/225 Clasificación LoC:TK7871.15S55 | V45Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | General | TK7871.15S55 V45 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 214548 |
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