Chim, Wai Kin, <br/><br/>
Semiconductor device and failue analysis :  using photon emission microscopy / 
Wai Kin Chim 
 - xv, 269 páginas :  ilustraciones ; 
<br/><br/><label>ISBN: </label>047149240X 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Semiconductores--Fallas<br/>Semiconductores--Pruebas<br/>Semiconductores--Microscopia<br/>Emisión de fotones
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7871.852  / C45 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.3815/2