Bushnell, Michael Lee,  1950-, <br/><br/>
Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / 
Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal 
 - xviii, 690 páginas :  ilustraciones 
 - Frontiers in electronic testing ;  17 .
<br/><br/><label>ISBN: </label>0792379918 (papel alcalino) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Circuitos integrados en muy gran escala--Pruebas<br/>Circuitos integrados digitales--Pruebas<br/>Circuitos de señales mixtas--Pruebas<br/>Memorias de semiconductores--Pruebas
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TK7874.75  / B87 
<br/><br/><label>Dewey Class. No.: </label>621.39/5