TY  - BOOK
AU  - Bushnell,Michael Lee
AU  - Agrawal,Vishwani D.
TI  - Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits
T2  - Frontiers in electronic testing
SN  - 0792379918 (papel alcalino)
AV  - TK7874.75 B87
U1  - 621.39/5 21
PY  - 2000///
CY  - Boston
PB  - Kluwer Academic
KW  - Circuitos integrados en muy gran escala
KW  - Pruebas
KW  - Circuitos integrados digitales
KW  - Circuitos de señales mixtas
KW  - Memorias de semiconductores
ER  -