LuValle, Michael J., <br/><br/>
Design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability / 
by Michael J. LuValle, Bruce G. Lefevre, SriRaman Kannan 
 - 236 páginas :  ilustraciones 
<br/><br/><label>ISBN: </label>1584884711 (papel alcalino) 
<br/><br/><label>Subjects--Topical Terms: </label><br/>Prueba acelerada de duración<br/>Confiabilidad (Ingeniería)
<br/><br/><label>LC Class. No.: </label>TA169.3  / L88