TY  - BOOK
AU  - Chang,Shih-Lin
TI  - X-ray multiple-wave diffraction: theory and application 
T2  - Springer series in solid-state sciences,
SN  - 3540211969 (papel libre de ácido)
AV  - QD945 C445
U1  - 548/.83 22
PY  - 2004///
CY  - Berlin
PB  - Springer Verlag
KW  - Cristalografía por rayos X
KW  - Rayos X
KW  - Difracción
ER  -