TY  - BOOK
AU  - Leach,Richard K.
TI  - Fundamental principles of engineering nanometrology
T2  - Micro and nano technologies
SN  - 9780080964546 (encuadernado)
AV  - TA174.7 L43
U1  - 620.50287 22
PY  - 2010///
CY  - Amsterdam
PB  - W. Andrew, Elsevier
KW  - Nanotecnología
KW  - Microtecnología
KW  - Metrología
ER  -