TY  - BOOK
AU  - Escamilla Esquivel,Adolfo
TI  - Metrología: y sus aplicaciones 
SN  - 9789708172332
AV  - T50 E73
PY  - 2009///
CY  - México, D.F.
PB  - Grupo Editorial Patria
KW  - Metrología
KW  - Medición
ER  -