TY  - BOOK
AU  - Leblebici, Yusuf,
AU  - Kang, Sung-Mo,
TI  - Hot-carrier reliability of mos vlsi circuits
SN  - 0-7923-9352-x
AV  - TK7874 L396
PY  - 1993///
CY  - Boston
PB  - Kluwer Academic
KW  - Circuitos integrados en muy gran escala
KW  - Defectos
KW  - Modelos matemáticos
KW  - Semiconductores de metal-óxido
KW  - Confiabilidad
KW  - Portadores activos
KW  - Modelos matematicos
ER  -