Design and analysis of accelerated tests for mission critical reliability / by Michael J. LuValle, Bruce G. Lefevre, SriRaman Kannan
Tipo de material: TextoEditor: Boca Raton : Chapman & Hall/CRC, c2004Descripción: 236 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1584884711 (papel alcalino)Tema(s): Prueba acelerada de duración | Confiabilidad (Ingeniería)Clasificación LoC:TA169.3 | L88Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | General | TA169.3 L88 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 183035 |
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