Run-to-run control in semiconductor manufacturing / edited by James Moyne, Enrique del Castillo, Arnon Max Hurwitz
Tipo de material: TextoIdioma: ENG Editor: Boca Raton, Florida : CRC Press, c2001Descripción: 348 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0-8493-1178-0 (papel alcalino)Tema(s): Semiconductores -- Diseño y construcción | Industria de semiconductores -- Control de la produccion | Encapsulado electrónico | Administración de la producciónClasificación LoC:TK7871.85 | R85Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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