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Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp
Tipo de material:
TextoSeries Springer series in advanced microelectronics ; 10Editor: Heidelberg : Springer Verlag, c2010Edición: 2nd edDescripción: x, 255 páginas : ilustraciones (algunas a color)Tipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9783642024160Tema(s): Aparatos e instrumentos electrónicos -- Propiedades térmicas | Aparatos e instrumentos electrónicos -- Pruebas | Semiconductores -- Propiedades térmicas | TermografíaClasificación LoC:TK7870.25 | B74 2010
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TK7870.25 B74 2010 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 195924 |
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