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X-ray metrology in semiconductor manufacturing / D. Keith Bowen, Brian K. Tanner

por Bowen, David Keith, 1940- [autor] | Tanner, B. K. (Brian Keith) [autor].

Tipo de material: Texto Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Boca Raton, Florida : CRC Press/Taylor & Francis, 2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7874.58 B68, ...

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