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		The core test wrapper handbook : rationale and application of IEEE std. 1500 / by Francisco da Silva, Teresa McLaurin, Tom Waayers por Da Silva, Francisco [autor] \| McLaurin, Teresa [autor] \| Waayers, Tom [autor]. Series Frontiers in electronic testing ; 35Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York, New York : Springer Verlag, c2006Otro título: IEEE standard 1500.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7895.E42 D37. Agregar al carrito (remover)
		Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal por Bushnell, Michael Lee, 1950- [autor] \| Agrawal, Vishwani D, 1943- [editor]. Series Frontiers in electronic testing ; 17Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874.75 B87. Agregar al carrito (remover)

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Facultad de Ingeniería
Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"