Transmission electron microscopy of silicon vlsi circuits and structures / R. b. marcus and t. t. sheng
Tipo de material: TextoEditor: New York : J. Wiley, c1983Descripción: 217 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0471092517Tema(s): Circuitos integrados | Microscopía electrónica | Microscopios electronicos de transmisionClasificación LoC:TK7874 | M353Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | General | TK7874 M353 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 102965 |
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"a wiley-interscience publications"
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