Embedded processor-based self-test / by Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis and Yervant Zorian
Tipo de material: TextoSeries Frontiers in electronic testingEditor: Boston : Kluwer Academic, c2004Descripción: xiv, 216 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1402027850 (empastado); 9781402027857 (empastado)Tema(s): Sistemas embebidos | Circuitos electrónicos -- Pruebas | Ingeniería de computadorasClasificación CDD: 621.392 Clasificación LoC:TK7895.E42 | G59Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
---|---|---|---|---|---|---|---|---|
Libros | Libros Libros | General | TK7895.E42 G59 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 186690 |
Total de reservas: 0
compra 2013/06/06 1393.72
No hay comentarios en este titulo.