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Fundamental principles of engineering nanometrology / Richard K. Leach
Tipo de material:
TextoSeries Micro and nano technologiesEditor: Amsterdam ; W. Andrew, Elsevier : c2010Descripción: xxvi, 321 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 9780080964546 (encuadernado); 0080964540 (encuadernado)Tema(s): Nanotecnología | Microtecnología | MetrologíaClasificación CDD: 620.50287 Clasificación LoC:TA174.7 | L43
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | TA174.7 L43 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 195664 |
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