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Microprobe characterization of optoelectronic materials / edited by Juan Jiménez
Tipo de material:
TextoSeries Optoelectronic properties of semiconductors and superlattices ; v. 17Editor: New York : Taylor & Francis, c2003Descripción: xiv, 715 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 1560329416 (papel alcalino)Tema(s): Semiconductores -- Propiedades ópticas | Análisis por microsondaClasificación CDD: 537.6/226 Clasificación LoC:QC611.6O6 | M53
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros
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Libros Libros | General | QC611.6O6 M53 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 182761 |
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