Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal
Tipo de material: TextoSeries Frontiers in electronic testing ; 17Editor: Boston : Kluwer Academic, c2000Descripción: xviii, 690 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0792379918 (papel alcalino)Tema(s): Circuitos integrados en muy gran escala -- Pruebas | Circuitos integrados digitales -- Pruebas | Circuitos de señales mixtas -- Pruebas | Memorias de semiconductores -- PruebasClasificación CDD: 621.39/5 Clasificación LoC:TK7874.75 | B87Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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Libros | Libros Libros | General | TK7874.75 B87 (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 181442 |
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