Su búsqueda recuperó 4 resultados.

Resultados
		Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal por Bushnell, Michael Lee, 1950- [autor] \| Agrawal, Vishwani D, 1943- [editor]. Series Frontiers in electronic testing ; 17Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874.75 B87. Agregar al carrito (remover)
		High performance memories : new architecture DRAMs and SRAMs--evolution and function / Betty Prince por Prince, Betty [autor]. Edición: Rev. ed.Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Chichester ; New York : Wiley, c1999Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7895.M4 P735 1999, ... Agregar al carrito (remover)
		High performance memories : new architecture DRAMs and SRAMs--evolution and function / Betty Prince por Prince, Betty [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Chichester : J. Wiley, c1996Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7895.M4 P735 1996. Agregar al carrito (remover)
		Memory, microprocessor, and ASIC / editor-in-chief, Wai-Kai Chen por Chen, Wai-Kai, 1936- [editor]. Series Principles and applications in engineering ; 7Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boca Raton, Florida : CRC Press, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7895.M4 M455. Agregar al carrito (remover)