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Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"

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Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal

Por: Bushnell, Michael Lee, 1950- [autor]Colaborador(es): Agrawal, Vishwani D, 1943- [editor]Tipo de material: TextoTextoSeries Frontiers in electronic testing ; 17Editor: Boston : Kluwer Academic, c2000Descripción: xviii, 690 páginas : ilustracionesTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0792379918 (papel alcalino)Tema(s): Circuitos integrados en muy gran escala -- Pruebas | Circuitos integrados digitales -- Pruebas | Circuitos de señales mixtas -- Pruebas | Memorias de semiconductores -- PruebasClasificación CDD: 621.39/5 Clasificación LoC:TK7874.75 | B87
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