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Hot-carrier reliability of mos vlsi circuits / By yusuf leblebici, sung-mo (steve) kang
Tipo de material:
TextoEditor: Boston : Kluwer Academic, c1993Descripción: xvi, 212 páginasTipo de contenido: texto Tipo de medio: sin medio Tipo de portador: volumenISBN: 0-7923-9352-xTema(s): Circuitos integrados en muy gran escala -- Defectos -- Modelos matemáticos | Semiconductores de metal-óxido -- Confiabilidad -- Modelos matemáticos | Portadores activos -- Confiabilidad -- Modelos matematicosClasificación LoC:TK7874 | L396
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Colección | Clasificación | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras | Reserva de ítems |
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