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		Lock-in thermography : basics and use for evaluating electronic devices and materials / O. Breitenstein, W. Warta, M. Langenkamp por Breitenstein, O. (Otwin) [autor] \| Warta, W. (Wilhelm) [autor] \| Langenkamp, M. (Martin), 1964- [autor]. Series Springer series in advanced microelectronics ; 10Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Heidelberg : Springer Verlag, c2010Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7870.25 B74 2010. Agregar al carrito (remover)
		Variation aware analog and mixed-signal circuit design in emerging multi-gate CMOS technologies / by Michael Fulde por Fulde, Michael. Series Springer series in advanced microelectronics ; 28Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Dordrecht : Springer Science+Business Media, c2010Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874 F85. Agregar al carrito (remover)

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Facultad de Ingeniería
Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"