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		Advances in electronic testing : challenges and methodologies / edited by Dimitris Gizopoulos por Gizopoulos, Dimitris [editor]. Series Frontiers in electronic testing ; 27Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Dordrecht : Springer Verlag, c2006Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7867 A385. Agregar al carrito (remover)
		The core test wrapper handbook : rationale and application of IEEE std. 1500 / by Francisco da Silva, Teresa McLaurin, Tom Waayers por Da Silva, Francisco [autor] \| McLaurin, Teresa [autor] \| Waayers, Tom [autor]. Series Frontiers in electronic testing ; 35Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York, New York : Springer Verlag, c2006Otro título: IEEE standard 1500.Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7895.E42 D37. Agregar al carrito (remover)
		Embedded processor-based self-test / by Dimitris Gizopoulos, Antonis Paschalis and Yervant Zorian por Gizopoulos, Dimitris [autor] \| Paschalis, Antonis [autor] \| Zorian, Yervant [autor]. Series Frontiers in electronic testingTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2004Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7895.E42 G59. Agregar al carrito (remover)
		Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal por Bushnell, Michael Lee, 1950- [autor] \| Agrawal, Vishwani D, 1943- [editor]. Series Frontiers in electronic testing ; 17Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874.75 B87. Agregar al carrito (remover)
		SOC (System-on-a-Chip) testing for plug and play test automation / edited by Krishnendu Chakrabarty por Chakrabarty, Krishnendu [editor]. Series Frontiers in electronic testing ; 21Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: Boston : Kluwer Academic, c2002Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7888.4 S63, ... Agregar al carrito (remover)
		Testing static random access memories : defects, fault models, and test patterns / by Said Hamdioui por Hamdioui, Said [autor]. Series Frontiers in electronic testingTipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2004Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7895.M4 H345. Agregar al carrito (remover)