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		Electron microprobe analysis and scanning electron microscopy in geology / S.J.B. Reed por Reed, S. J. B [autor]. Edición: 2nd ed.Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Cambridge : Cambridge University Press, c2005Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (6)Clasificación: QE440 R44 2005, ... Agregar al carrito (remover)
		Microprobe characterization of optoelectronic materials / edited by Juan Jiménez por Jiménez, Juan [editor]. Series Optoelectronic properties of semiconductors and superlattices ; v. 17Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: New York : Taylor & Francis, c2003Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: QC611.6O6 M53. Agregar al carrito (remover)
		Microprobe techniques in the earth sciences / edited by Philip J. Potts, John F. W. Bowles, Stephen J. B. Reed, Mark R. Cave por Potts, Philip J [editor] \| Bowles, John F. W [editor] \| Reed, Stephen J. B [editor] \| Cave, Mark R [editor]. Series Mineralogical Society series ; 6Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: SPA Editor: London : Chapman and Hall, 1995Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: QE516.3 M53, ... Agregar al carrito (remover)