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		Essentials of electronic testing for digital, memory, and mixed-signal VLSI circuits / Michael L. Bushnell, Vishwani D. Agrawal por Bushnell, Michael Lee, 1950- [autor] \| Agrawal, Vishwani D, 1943- [editor]. Series Frontiers in electronic testing ; 17Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2000Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874.75 B87. Agregar al carrito (remover)
		Test and design-for-testability in mixed-signal integrated circuits / edited by José L. Huertas por Huertas, José L. (José Luis) [editor]. Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c2004Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (1)Clasificación: TK7874 T437. Agregar al carrito (remover)

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Facultad de Ingeniería
Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"