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		Hot-carrier reliability of mos vlsi circuits / By yusuf leblebici, sung-mo (steve) kang por Leblebici, Yusuf [autor] \| Kang, Sung-Mo, 1945- [autor]. Tipo de material: Texto; Forma literaria: No es ficción Editor: Boston : Kluwer Academic, c1993Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (4)Clasificación: TK7874 L396, ... Agregar al carrito (remover)
		Microwave noise in semiconductor devices / Hans Ludwig Hartnagel, Ramunas Katilius, Arvydas Matulionis por Hartnagel, Hans Ludwig, 1934- [autor] \| Katilius, Ramunas [autor] \| Matulionis, Arvydas, 1946- [autor]. Tipo de material: Texto; Formato: impreso ; Forma literaria: No es ficción Idioma: ENG Editor: New York : J. Wiley, c2001Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Libros (2)Clasificación: TK7867.5 H37, ... Agregar al carrito (remover)

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Facultad de Ingeniería
Catálogo de la Biblioteca "Ing. Antonio Dovalí Jaime"