000 00762nam a2200241zi 4500
005 20220221131536.0
008 040517s2003 njua 000 0 eng
020 _a0471439959 (encuadernado en tela)
035 _aMX001000995464
040 _aDLC
_bspa
_cDLC
_dUNAMX
041 _aENG
050 0 0 _aTK7868.D5
_bM52 2003
100 1 _aMiczo, Alexander,
_eautor
245 1 0 _aDigital logic testing and simulation /
_cAlexander Miczo
250 _a2nd ed.
264 1 _aHoboken, New Jersey :
_bWiley-Interscience,
_cc2003
300 _axxii, 668 páginas :
_bilustraciones
650 0 _aElectrónica digital
_xPruebas
336 _atexto
_2rdacontent
337 _asin medio
_2rdamedia
338 _avolumen
_2rdacarrier
999 _c15657
_d15657