| 000 | 00837nam a2200217 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 008 | 070831s1993^^^^xxu^^^^^^^^^^^000^0^eng^^ | ||
| 020 | _a0-7923-9352-x | ||
| 035 | _aMX001000651455 | ||
| 050 |
_aTK7874 _bL396 |
||
| 100 | 0 |
_aLeblebici, Yusuf, _eautor |
|
| 245 | 1 | 0 |
_aHot-carrier reliability of mos vlsi circuits / _cBy yusuf leblebici, sung-mo (steve) kang |
| 264 | 1 |
_aBoston : _bKluwer Academic, _cc1993 |
|
| 300 | _axvi, 212 páginas | ||
| 336 |
_atexto _2rdacontent |
||
| 337 |
_asin medio _2rdamedia |
||
| 338 |
_avolumen _2rdacarrier |
||
| 650 |
_aCircuitos integrados en muy gran escala _xDefectos _xModelos matemáticos |
||
| 650 |
_aSemiconductores de metal-óxido _xConfiabilidad _xModelos matemáticos |
||
| 650 |
_aPortadores activos _xConfiabilidad _xModelos matematicos |
||
| 700 |
_aKang, Sung-Mo, _d1945- _eautor |
||
| 999 |
_c9525 _d9525 |
||